Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
Nathalie Labat : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00197484
Soumis le : vendredi 14 décembre 2007-15:41:22
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00197484 , version 1
Citer
Moshine Bouya, Dominique Carisetti, Nathalie Malbert, Nathalie Labat, Philippe Perdu, et al.. Techniques de détection de défauts dans les transistors à haute mobilité électronique AlGaN/GaN à contact Schottky Pt/Ti/Au. XVIèmes Journées Nationales Microondes, May 2007, Toulouse, France. pp.xx-xx. ⟨hal-00197484⟩
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