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Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Techniques de détection de défauts dans les transistors à haute mobilité électronique AlGaN/GaN à contact Schottky Pt/Ti/Au

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00197484 , version 1 (14-12-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00197484 , version 1

Citer

Moshine Bouya, Dominique Carisetti, Nathalie Malbert, Nathalie Labat, Philippe Perdu, et al.. Techniques de détection de défauts dans les transistors à haute mobilité électronique AlGaN/GaN à contact Schottky Pt/Ti/Au. XVIèmes Journées Nationales Microondes, May 2007, Toulouse, France. pp.xx-xx. ⟨hal-00197484⟩
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