Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2007
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https://hal.science/hal-00197479
Soumis le : vendredi 14 décembre 2007-15:31:00
Dernière modification le : lundi 17 mars 2025-19:20:26
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00197479 , version 1
Citer
Moshine Bouya, Dominique Carisetti, Nathalie Malbert, Nathalie Labat, Philippe Perdu, et al.. Study of passivation defects by electroluminescence in AlGaN/GaN HEMTs on SiC. Microelectronics Reliability, 2007, 47, pp.1631-1633. ⟨hal-00197479⟩
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