Article Dans Une Revue
Materials Science and Engineering: A
Année : 2007
Yannick Champion : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00197055
Soumis le : vendredi 14 décembre 2007-10:34:15
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:13
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00197055 , version 1
Citer
G. Shigesato, E. Rauch. Dislocation structure misorientations measured with an automated TEM diffraction pattern indexing tool. Materials Science and Engineering: A, 2007, 462, pp.402-406. ⟨hal-00197055⟩
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