Scattering matrix method applied to the characterisation of multilayered porous silicon structures - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00195060 , version 1 (08-12-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00195060 , version 1

Citer

Alexandre Reinhardt, Vincent Laude, Sylvain Ballandras, Abdelkrim Khelif, Paul Snow. Scattering matrix method applied to the characterisation of multilayered porous silicon structures. 9th European Conference on Non-Destructive Testing, 2006, Berlin, Germany. pp.Th.4.7.3. ⟨hal-00195060⟩
38 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More