On-line Testing of Embedded Systems Using Optical Probes:system modeling and probing technology - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2002
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00194675 , version 1 (07-12-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00194675 , version 1

Citer

C. Aktouf, B. Pannetier, P. Lemaitre-Auger, S. Tedjini. On-line Testing of Embedded Systems Using Optical Probes:system modeling and probing technology. Eighth 8th IEEE International On-Line Testing Workshop, 2002, Ile de Bendor, France. pp.191-200. ⟨hal-00194675⟩
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