Safe operating area of GaAs MESFET for non linear applications - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Device and Materials Reliability Année : 2006

Safe operating area of GaAs MESFET for non linear applications

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Nathalie Labat  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00185721

Soumis le : mardi 6 novembre 2007-19:41:40

Dernière modification le : lundi 11 septembre 2023-16:36:51

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Dates et versions

hal-00185721 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185721 , version 1

Citer

N. Malbert N. Labat N. Ismaïl A. Touboul, J.L. Muraro. Safe operating area of GaAs MESFET for non linear applications. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2006, 6 (2), pp.221-227. ⟨hal-00185721⟩

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