Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 1996

Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00185418

Soumis le : mardi 6 novembre 2007-09:05:31

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00185418 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185418 , version 1

Citer

Pascal Fouillat, Hervé Lapuyade, Yvan Maidon, Jean-Paul Dom. Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam. Proc. of the 5th European Conference on Electron and Optical Beam Testing of Electronic Devices, 1996, Germany. pp.1. ⟨hal-00185418⟩

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