Backside Laser Testing of ICs for SET Sensitivity Evaluation - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2001

Backside Laser Testing of ICs for SET Sensitivity Evaluation

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00185400

Soumis le : mardi 6 novembre 2007-09:05:23

Dernière modification le : mardi 23 janvier 2024-12:28:53

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00185400 , version 1 (06-11-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00185400 , version 1

Citer

Dean Lewis, Vincent Pouget, Félix Beaudoin, Philippe Perdu, Hervé Lapuyade, et al.. Backside Laser Testing of ICs for SET Sensitivity Evaluation. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2001, 48, pp.1. ⟨hal-00185400⟩

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