Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 1996

Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00184312

Soumis le : mercredi 31 octobre 2007-08:49:23

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00184312 , version 1 (31-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00184312 , version 1

Citer

Yann Deval, Renaud Briand, Xavier Montagner, Pascal Fouillat, Jean Tomas, et al.. Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations. Journées d'étude RADECS96, 1996, France. ⟨hal-00184312⟩

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