Study of influence of failure modes on lifetime distribution prediction of 1.55 µm DFB laser diodes using weak drift of monitored parameters during ageing tests - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2004

Study of influence of failure modes on lifetime distribution prediction of 1.55 µm DFB laser diodes using weak drift of monitored parameters during ageing tests

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183946

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-12:39:06

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183946 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183946 , version 1

Citer

Laurent Mendizabal, Laurent Bechou, Yannick Deshayes, Frédéric Verdier, Yves Danto, et al.. Study of influence of failure modes on lifetime distribution prediction of 1.55 µm DFB laser diodes using weak drift of monitored parameters during ageing tests. Microelectronics Reliability, 2004, 44, pp.1. ⟨hal-00183946⟩

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