Evolution of LF noise in Power PHEMT's ubmitted to RF and DC step stresses - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2003
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183509 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183509 , version 1

Citer

Nathalie Malbert, Nathalie Labat, Benoit Lambert, Andre Touboul. Evolution of LF noise in Power PHEMT's ubmitted to RF and DC step stresses. Journées Scientifiques Francophones Electronique, Télécoms et Informatique, 2003, Tunisia. pp.1. ⟨hal-00183509⟩
47 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More