Quality evaluation of S-HEMTs and PM-HEMTs by drain current transients and L.F. channel noise analysis - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 1995

Quality evaluation of S-HEMTs and PM-HEMTs by drain current transients and L.F. channel noise analysis

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183486

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-08:47:43

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-00183486 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183486 , version 1

Citer

Nathalie Saysset, Cristell Maneux, Nathalie Labat, Andre Touboul, Yves Danto. Quality evaluation of S-HEMTs and PM-HEMTs by drain current transients and L.F. channel noise analysis. ESREF'95, 1995, France. pp.1. ⟨hal-00183486⟩

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