Reliability evaluation of GaAs HBT technologies - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 1999

Reliability evaluation of GaAs HBT technologies

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183478

Soumis le : mardi 30 octobre 2007-08:47:40

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183478 , version 1 (30-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183478 , version 1

Citer

Cristell Maneux, Nathalie Labat, Nathalie Malbert, Andre Touboul, Yves Danto, et al.. Reliability evaluation of GaAs HBT technologies. IEEE International Symposium on Electron Devices for Microwave and Optoelectronic Applications, 1999, United Kingdom. pp.1. ⟨hal-00183478⟩

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