Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 1996
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https://hal.science/hal-00183097
Soumis le : lundi 29 octobre 2007-15:31:52
Dernière modification le : lundi 17 mars 2025-19:18:24
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00183097 , version 1
Citer
Cristell Maneux, Nathalie Labat, Nathalie Saysset, Andre Touboul, Yves Danto, et al.. Analysis of the surface base current drift in GaAs HBT's. Microelectronics Reliability, 1996, 36, pp.1. ⟨hal-00183097⟩
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