Experimental analysis and 2D simulation of AlGaAs/GaAs HBT base leakage current - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 1997

Experimental analysis and 2D simulation of AlGaAs/GaAs HBT base leakage current

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183096

Soumis le : lundi 29 octobre 2007-15:31:52

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183096 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183096 , version 1

Citer

Cristell Maneux, Nathalie Labat, Nathalie Saysset, Andre Touboul, Yves Danto. Experimental analysis and 2D simulation of AlGaAs/GaAs HBT base leakage current. Microelectronics Reliability, 1997, 37, pp.1. ⟨hal-00183096⟩

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