1/f noise analysis of InP/InGaAs DHBTs submitted to bias and thermal stresses - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2003

1/f noise analysis of InP/InGaAs DHBTs submitted to bias and thermal stresses

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00183090

Soumis le : lundi 29 octobre 2007-15:31:44

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00183090 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00183090 , version 1

Citer

Jean-Christophe Martin, Cristell Maneux, Nathalie Labat, Andre Touboul, Muriel Riet, et al.. 1/f noise analysis of InP/InGaAs DHBTs submitted to bias and thermal stresses. Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1. ⟨hal-00183090⟩

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