Communication Dans Un Congrès
Année : 1997
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https://hal.science/hal-00182923
Soumis le : lundi 29 octobre 2007-13:11:12
Dernière modification le : lundi 17 mars 2025-19:32:40
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00182923 , version 1
Citer
Yves Ousten, Said Mejdi, Alain Fenech, Jean-Yves Deletage, Laurent Bechou, et al.. The use of impedance spectroscopy, SEM and SAM imaging for early detection of failure in SMT assemblies. 6th International Symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits, (IPFA 97), 1997, Singapore. pp.1. ⟨hal-00182923⟩
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