The use of impedance spectroscopy, SEM and SAM imaging for early detection of failure in SMT assemblies - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 1997

The use of impedance spectroscopy, SEM and SAM imaging for early detection of failure in SMT assemblies

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00182923

Soumis le : lundi 29 octobre 2007-13:11:12

Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-10:37:00

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Dates et versions

hal-00182923 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00182923 , version 1

Citer

Yves Ousten, Said Mejdi, Alain Fenech, Jean-Yves Deletage, Laurent Bechou, et al.. The use of impedance spectroscopy, SEM and SAM imaging for early detection of failure in SMT assemblies. 6th International Symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits, (IPFA 97), 1997, Singapore. pp.1. ⟨hal-00182923⟩

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