Intra-IC Inspection and Metrology with Picosecond Laser Ultrasonics - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2005
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00182901 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00182901 , version 1

Citer

Grégory Andriamonje, Vincent Pouget, Yves Ousten, Dean Lewis, Pascal Fouillat, et al.. Intra-IC Inspection and Metrology with Picosecond Laser Ultrasonics. 22nd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC) 2005, 2005, Canada. pp.1. ⟨hal-00182901⟩
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