Caractérisation d interfaces Cu/Al2O3 par un système d analyse ultrasonore - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 1999
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00182873 , version 1 (29-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00182873 , version 1

Citer

Laurent Bechou, Yves Ousten, Yves Danto, Omar Rachidi, Claude Lucat. Caractérisation d interfaces Cu/Al2O3 par un système d analyse ultrasonore. Journée « Couches épaisses pour électrocéramiques », 1999, France. ⟨hal-00182873⟩
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