Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 1997
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https://hal.science/hal-00181937
Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-16:46:45
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00181937 , version 1
Citer
Laurent Bechou, Yves Ousten, Yves Danto. Ultrasonic characterisation improvement of microassembling technologies using Time-Frequency analysis. Microelectronics Reliability, 1997, 1, pp.1. ⟨hal-00181937⟩
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