Failure mechanisms and qualification testing of passive components - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2005

Failure mechanisms and qualification testing of passive components

Ha Post
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P. Letullier
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T. Briolat
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R. Humke
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R. Schuhmann
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K. Saarinen
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W. Werner
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Yves Ousten
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Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
G. Lekens
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A. Dehbi
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W. Wondrak
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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-00181925

Soumis le : mercredi 24 octobre 2007-16:46:40

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00181925 , version 1 (24-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00181925 , version 1

Citer

Ha Post, P. Letullier, T. Briolat, R. Humke, R. Schuhmann, et al.. Failure mechanisms and qualification testing of passive components. Microelectronics Reliability, 2005, 1, pp.1. ⟨hal-00181925⟩

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