A fast VLSI SRAM mapping methodology using voltage contrast techniques on SEM - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1992
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00181911 , version 1 (24-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00181911 , version 1

Citer

François Marc, Hélène Fremont, Paul Jounet, Andre Touboul, Yves Danto. A fast VLSI SRAM mapping methodology using voltage contrast techniques on SEM. ESREF, 1992, Schwäbisch-Gmünd, Germany. pp.471-474. ⟨hal-00181911⟩
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