Mécanisme de défaillance de l'IGBT Trench en mode court-circuit après ouverture - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Mécanisme de défaillance de l'IGBT Trench en mode court-circuit après ouverture

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00180643 , version 1 (19-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00180643 , version 1

Citer

Adel Benmansour, Stephane Azzopardi, Jean-Christophe Martin, Eric Woirgard. Mécanisme de défaillance de l'IGBT Trench en mode court-circuit après ouverture. Electronique de Puissance du Futur, Jul 2006, Grenoble, France. pp.CD. ⟨hal-00180643⟩
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