An improved method for automatic detection and location of defects in electronics components using scanning ultrasonic microscopy - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Année : 2003

An improved method for automatic detection and location of defects in electronics components using scanning ultrasonic microscopy

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Dominique Dallet  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00180554

Soumis le : vendredi 19 octobre 2007-14:53:52

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-00180554 , version 1 (19-10-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00180554 , version 1

Citer

Laurent Bechou, Dominique Dallet, Yves Danto, Pasquale Daponte, Yves Ousten, et al.. An improved method for automatic detection and location of defects in electronics components using scanning ultrasonic microscopy. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2003, 52 (1), pp.135-142. ⟨hal-00180554⟩

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