Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2004
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https://hal.science/hal-00179907
Soumis le : mercredi 17 octobre 2007-09:47:57
Dernière modification le : mardi 12 août 2025-15:32:38
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00179907 , version 1
Citer
Alexandrine Guédon-Gracia, Eric Woirgard, Christian Zardini, Pascal Roux. Influence of the thermo-mechanical residual state on the power assembly modellization. Microelectronics Reliability, 2004, 44, pp.1331-1335. ⟨hal-00179907⟩
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