Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 1997
Yannick Deshayes : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00164920
Soumis le : mardi 24 juillet 2007-12:07:16
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00164920 , version 1
Citer
L. Bechou, B. Tregon, Y. Ousten, F. Marc, Y. Danto, et al.. Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization. Microelectronics Reliability, 1997, 37 (10-11), pp. 1787-1790. ⟨hal-00164920⟩
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