Article Dans Une Revue
EXACT INTERNATIONAL PUBLICATIONS FOR PASSIVE MANUFACTURERS
Année : 1996
Yannick Deshayes : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00164912
Soumis le : mardi 24 juillet 2007-11:54:28
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00164912 , version 1
Citer
L. Bechou, S. Mejdi, Y. Ousten, Y. Danto. Nondestructive defect detection in multilayer ceramic chip capacitors using piezoelectric analysis and acoustic microscopy. EXACT INTERNATIONAL PUBLICATIONS FOR PASSIVE MANUFACTURERS, 1996, pp. ⟨hal-00164912⟩
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