Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique

Domaines

Optique / photonique

Yannick Deshayes  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00162364

Soumis le : vendredi 13 juillet 2007-11:55:58

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00162364 , version 1 (13-07-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00162364 , version 1

Citer

L. Bechou, Y. Danto, Y. Deshayes, L. Mendizabal, F. Verdier. Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique. 7ème JNRDM 2004, Marseille-France, France. ⟨hal-00162364⟩

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