Atomic force microscope tip-surface behaviour under continuous bias or pulsed voltages in non contact mode

Bernard Legrand; D. Stievenard

Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2000

Atomic force microscope tip-surface behaviour under continuous bias or pulsed voltages in non contact mode

(1) ,

1

Bernard Legrand

Fonction : Auteur
PersonId : 4144
IdHAL : bernard-legrand
ORCID : 0000-0001-5158-3654
IdRef : 137439423

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

CV

D. Stievenard

Fonction : Auteur
PersonId : 747967
IdHAL : didier-stievenard

Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00158646

Soumis le : vendredi 29 juin 2007-11:10:11

Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-03:30:07

Dates et versions

hal-00158646 , version 1 (29-06-2007)

Identifiants

HAL Id : hal-00158646 , version 1

Citer

Bernard Legrand, D. Stievenard. Atomic force microscope tip-surface behaviour under continuous bias or pulsed voltages in non contact mode. Applied Physics Letters, 2000, 76, pp.1018-1020. ⟨hal-00158646⟩

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