Atomic force microscope tip-surface behaviour under continuous bias or pulsed voltages in non contact mode - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2000

Atomic force microscope tip-surface behaviour under continuous bias or pulsed voltages in non contact mode

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00158646 , version 1 (29-06-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00158646 , version 1

Citer

Bernard Legrand, D. Stievenard. Atomic force microscope tip-surface behaviour under continuous bias or pulsed voltages in non contact mode. Applied Physics Letters, 2000, 76, pp.1018-1020. ⟨hal-00158646⟩
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