Communication Dans Un Congrès
Année : 2000
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https://hal.science/hal-00158540
Soumis le : vendredi 29 juin 2007-09:48:17
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
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Identifiants
- HAL Id : hal-00158540 , version 1
Citer
E. Lampin, V. Senez, Alain Claverie. Modélisation des défauts étendus pour la diffusion transitoire accélérée du bore. 1ère Journée Nationale Impuretés et Défauts dans les Composants Ultimes, GDR Nanoélectronique : du silicium à la molécule, 2000, Orsay, France. ⟨hal-00158540⟩
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