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Conference Papers Year : 2000

Modélisation des défauts étendus pour la diffusion transitoire accélérée du bore

V. Senez
  • Function : Author
Alain Claverie
No file

Dates and versions

hal-00158540 , version 1 (29-06-2007)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00158540 , version 1

Cite

E. Lampin, V. Senez, Alain Claverie. Modélisation des défauts étendus pour la diffusion transitoire accélérée du bore. 1ère Journée Nationale Impuretés et Défauts dans les Composants Ultimes, GDR Nanoélectronique : du silicium à la molécule, 2000, Orsay, France. ⟨hal-00158540⟩
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