Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2005
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00154911
Soumis le : vendredi 15 juin 2007-08:17:57
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00154911 , version 1
Citer
Q.H. Duong, L. Buchaillot, D. Collard, P. Schmitt, X. Lafontan, et al.. Thermal and electrostatic reliability characterization in RF MEMS switches. Microelectronics Reliability, 2005, 45, pp.1790-1793. ⟨hal-00154911⟩
Collections
18
Consultations
0
Téléchargements