Thermal and electrostatic reliability characterization in RF MEMS switches - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2005

Thermal and electrostatic reliability characterization in RF MEMS switches

Q.H. Duong
  • Fonction : Auteur
D. Collard
  • Fonction : Auteur
P. Schmitt
  • Fonction : Auteur
X. Lafontan
  • Fonction : Auteur
Patrick Pons
F. Flourens
  • Fonction : Auteur
F. Pressecq
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00154911 , version 1 (15-06-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00154911 , version 1

Citer

Q.H. Duong, L. Buchaillot, D. Collard, P. Schmitt, X. Lafontan, et al.. Thermal and electrostatic reliability characterization in RF MEMS switches. Microelectronics Reliability, 2005, 45, pp.1790-1793. ⟨hal-00154911⟩
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