Reliability approach in the design of RF microswitches - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2001

Reliability approach in the design of RF microswitches

N. Rolland-Haese
P.A. Rolland
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00152219 , version 1 (06-06-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00152219 , version 1

Citer

L. Buchaillot, N. Rolland-Haese, P.A. Rolland. Reliability approach in the design of RF microswitches. Proceedings of the 13th European Microelectronics and Packging Conference, EMPC 2001, 2001, Strasbourg, France. ⟨hal-00152219⟩
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