Communication Dans Un Congrès
Année : 2002
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00148789
Soumis le : mercredi 23 mai 2007-11:20:18
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00148789 , version 1
Citer
O. Millet, D. Collard, L. Buchaillot. Reliability of packaging MEMS in shock environment : crack and stiction modeling. 2002, pp.696-703. ⟨hal-00148789⟩
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