Communication Dans Un Congrès Année : 2002

Reliability of packaging MEMS in shock environment : crack and stiction modeling

D. Collard
  • Fonction : Auteur
L. Buchaillot
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00148789 , version 1 (23-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00148789 , version 1

Citer

O. Millet, D. Collard, L. Buchaillot. Reliability of packaging MEMS in shock environment : crack and stiction modeling. 2002, pp.696-703. ⟨hal-00148789⟩
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