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Communication Dans Un Congrès Année : 2005

New extraction method for gate bias dependent series resistance in nanometric double gate transistors.

A. Cros
  • Fonction : Auteur
S. Harrison
  • Fonction : Auteur
R. Cerutti
  • Fonction : Auteur
P. Coronel
  • Fonction : Auteur
H. Brut
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00146484 , version 1 (15-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00146484 , version 1

Citer

A. Cros, S. Harrison, R. Cerutti, P. Coronel, Gérard Ghibaudo, et al.. New extraction method for gate bias dependent series resistance in nanometric double gate transistors.. International Conference on Microelectronic Test Structures - ICMTS, 2005, Louvain, Belgium. ⟨hal-00146484⟩

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