Microscopic analysis of the high-frequency noise behaviour of fully-depleted silicon-on-insulator MOSFETs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2003

Microscopic analysis of the high-frequency noise behaviour of fully-depleted silicon-on-insulator MOSFETs

R. Rengel
  • Fonction : Auteur
J. Mateos
D. Pardo
  • Fonction : Auteur
T. Gonzales
  • Fonction : Auteur
M.J. Martin
  • Fonction : Auteur
Francois Danneville
J.P. Raskin
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00145998 , version 1 (14-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00145998 , version 1

Citer

R. Rengel, J. Mateos, D. Pardo, T. Gonzales, M.J. Martin, et al.. Microscopic analysis of the high-frequency noise behaviour of fully-depleted silicon-on-insulator MOSFETs. 2003, pp.585-588. ⟨hal-00145998⟩
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