Communication Dans Un Congrès
Année : 2003
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https://hal.science/hal-00145998
Soumis le : lundi 14 mai 2007-09:34:06
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00145998 , version 1
Citer
R. Rengel, J. Mateos, D. Pardo, T. Gonzales, M.J. Martin, et al.. Microscopic analysis of the high-frequency noise behaviour of fully-depleted silicon-on-insulator MOSFETs. 2003, pp.585-588. ⟨hal-00145998⟩
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