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Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Reliability of polycrystalline MEMS : prediction of the debugging-time

Pierre Bertrand
  • Fonction : Auteur
Bernard Legrand
D. Collard
  • Fonction : Auteur
L. Buchaillot
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00141030 , version 1 (11-04-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00141030 , version 1

Citer

O. Millet, Pierre Bertrand, Bernard Legrand, D. Collard, L. Buchaillot. Reliability of polycrystalline MEMS : prediction of the debugging-time. International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2004, 2004, Worcester, MA, United States. ⟨hal-00141030⟩
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