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Communication Dans Un Congrès Année : 2004

Noise modeling and performance of SOI MOSFETs

G. Pailloncy
  • Fonction : Auteur
B. Iniguez
  • Fonction : Auteur
J.P. Raskin
  • Fonction : Auteur
Gilles Dambrine
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00133912 , version 1 (28-02-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00133912 , version 1

Citer

Francois Danneville, G. Pailloncy, B. Iniguez, J.P. Raskin, Gilles Dambrine. Noise modeling and performance of SOI MOSFETs. IEEE MTT-S International Microwave Symposium, Workshop on High Frequency Noise in Advanced Silicon-based Devices : From Basics to State-of-the-Art Device and Circuit Performances, 2004, Fort Worth, TX, United States. ⟨hal-00133912⟩
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