Communication Dans Un Congrès
Année : 2004
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https://hal.science/hal-00133912
Soumis le : mercredi 28 février 2007-10:22:34
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00133912 , version 1
Citer
Francois Danneville, G. Pailloncy, B. Iniguez, J.P. Raskin, Gilles Dambrine. Noise modeling and performance of SOI MOSFETs. IEEE MTT-S International Microwave Symposium, Workshop on High Frequency Noise in Advanced Silicon-based Devices : From Basics to State-of-the-Art Device and Circuit Performances, 2004, Fort Worth, TX, United States. ⟨hal-00133912⟩
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