Article Dans Une Revue
IEEE Electron Device Letters
Année : 2004
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00133878
Soumis le : mercredi 28 février 2007-09:50:03
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00133878 , version 1
Citer
J. Mateos, B.G. Vasallo, D. Pardo, T. Gonzales, E. Pichonat, et al.. Nonlinear effects in T-branch junctions. IEEE Electron Device Letters, 2004, 25, pp.235-237. ⟨hal-00133878⟩
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