Influence of orientation, thickness and Nb doping on the structural, microstructural and electrical properties of PZT thin films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2003

Influence of orientation, thickness and Nb doping on the structural, microstructural and electrical properties of PZT thin films

Denis Remiens
T. Haccart
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00132002 , version 1 (20-02-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00132002 , version 1

Citer

Eric Cattan, Denis Remiens, T. Haccart. Influence of orientation, thickness and Nb doping on the structural, microstructural and electrical properties of PZT thin films. REMIENS D. Recent research developments in piezoelectric materials for macro/micro systems, Research Signpost, Kerala, India, pp.129-158, 2003. ⟨hal-00132002⟩
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