Synchrotron X-ray diffractometry and imaging on strains and defects in icosahedral quasicrystal grains
J. Gastaldi
(1)
,
T. Schenk
(2)
,
L. Mancini
(3)
,
H. Klein
(4)
,
J. Härtwig
(5)
,
S. Agliozzo
(6)
,
J. Baruchel
(5)
,
M. de Boissieu
(7)
1
CRMCN -
Centre de recherche de la matière condensée et des nanosciences
2 LPM - Laboratoire de physique des matériaux
3 ISS - Istituto Superiore di Sanità = National Institute of Health
4 Laboratoire de Cristallographie
5 ESRF - European Synchrotron Radiation Facility
6 IPNO - Institut de Physique Nucléaire d'Orsay
7 LTPCM - Laboratoire de thermodynamique et physico-chimie métallurgiques
2 LPM - Laboratoire de physique des matériaux
3 ISS - Istituto Superiore di Sanità = National Institute of Health
4 Laboratoire de Cristallographie
5 ESRF - European Synchrotron Radiation Facility
6 IPNO - Institut de Physique Nucléaire d'Orsay
7 LTPCM - Laboratoire de thermodynamique et physico-chimie métallurgiques
T. Schenk
- Fonction : Auteur
- PersonId : 10398
- IdHAL : thomas-schenk
- ORCID : 0000-0003-4502-7488
- IdRef : 228218977