Sensitivity of Suspended-Gate Polysilicon TFTs to Charge Variation and Application to DNA Recognition - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00095156 , version 1 (15-09-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00095156 , version 1

Citer

Tayeb Mohammed-Brahim, F. Bendriaa, France Le Bihan, Anne-Claire Salaün, Olivier Bonnaud. Sensitivity of Suspended-Gate Polysilicon TFTs to Charge Variation and Application to DNA Recognition. ECS 2006 Joint International Meeting, Oct 2006, Cancun, Mexico. ⟨hal-00095156⟩
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