Spectroscopic study using FTIR, Raman, XPS and NEXAFS of carbon nitride thin films deposited by RF magnetron sputtering - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2004
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00088283 , version 1 (01-08-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00088283 , version 1

Citer

B. Bouchet-Fabre, E. Marino, G. Lazar, F. Abel, D. Ballutaud, et al.. Spectroscopic study using FTIR, Raman, XPS and NEXAFS of carbon nitride thin films deposited by RF magnetron sputtering. EMRS Spring meeting, 2004, Strasbourg, France. ⟨hal-00088283⟩
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