High-Resolution Photothermal Microscope: A very sensitive tool for the detection of isolated absorbing defects in optical coatings - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied optics Année : 2006

High-Resolution Photothermal Microscope: A very sensitive tool for the detection of isolated absorbing defects in optical coatings

Jean-Yves Natoli
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 832180
Mireille Commandre
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 832173
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00082129 , version 1 (27-06-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00082129 , version 1

Citer

Bertrand Bertussi, Jean-Yves Natoli, Mireille Commandre. High-Resolution Photothermal Microscope: A very sensitive tool for the detection of isolated absorbing defects in optical coatings. Applied optics, 2006, 45, pp.1410. ⟨hal-00082129⟩
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