Photothermal deflection microscopy for imaging sub-micronic defects in optical materials - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Optics Communications Année : 2004

Photothermal deflection microscopy for imaging sub-micronic defects in optical materials

Annelise During
  • Fonction : Auteur
Caroline Fossati
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 832172
Mireille Commandre
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 832173
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00082111 , version 1 (27-06-2006)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00082111 , version 1

Citer

Annelise During, Caroline Fossati, Mireille Commandre. Photothermal deflection microscopy for imaging sub-micronic defects in optical materials. Optics Communications, 2004, 230, pp.279. ⟨hal-00082111⟩
22 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More