Use of Fourier transfoim in grazing X-rays reflectometry - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal de Physique III Année : 1994

Use of Fourier transfoim in grazing X-rays reflectometry

Résumé

Grazing X-ray reflectometry allows the analysis of thin layer stacks. The fitting of the reflectivity curve by a trial and error method can be used in order to determine the parameters of the films. Fourier analysis of the experimental reflectivity can directly give a rough determination of the profil index. Application to real examples shows the validity of the method.
Fichier principal
Vignette du fichier
ajp-jp3v4p1523.pdf (311.2 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Accord explicite pour ce dépôt

Dates et versions

jpa-00249202 , version 1 (04-02-2008)

Identifiants

Citer

Françoise Bridou, Bruno Pardo. Use of Fourier transfoim in grazing X-rays reflectometry. Journal de Physique III, 1994, 4 (9), pp.1523-1531. ⟨10.1051/jp3:1994219⟩. ⟨jpa-00249202⟩
132 Consultations
349 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More