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Article Dans Une Revue Journal de Physique Colloques Année : 1987

CAPTURE CROSS-SECTIONS OF DEEP LEVELS IN SUPERLATTICES

Dominique Vuillaume
S. Feng
  • Fonction : Auteur
J. Bourgoin
  • Fonction : Auteur

Résumé

Transient capacitance spectroscopy can be used to characterize superlattices and the defects they contain. Here, we describe the measurement of electron capture cross-sections of deep levels introduced by electron irradiation. The variation of the capture rate versus temperature indicates that this capture occurs through a multiphonon emission process whose characteristics can be predicted in taking into account the superlattice band structure.

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Dates et versions

jpa-00226756 , version 1 (04-02-2008)

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Citer

D. Stievenard, Dominique Vuillaume, S. Feng, J. Bourgoin. CAPTURE CROSS-SECTIONS OF DEEP LEVELS IN SUPERLATTICES. Journal de Physique Colloques, 1987, 48 (C5), pp.C5-247-C5-250. ⟨10.1051/jphyscol:1987552⟩. ⟨jpa-00226756⟩

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