Article Dans Une Revue
Applied Physics Express
Année : 2019
Serge Gambarelli : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04797437
Soumis le : vendredi 22 novembre 2024-10:16:26
Dernière modification le : lundi 9 décembre 2024-03:35:57
Citer
Takuma Sato, Christian Lombard, Yudai Yamashita, Zhihao Xu, Louise Benincasa, et al.. Investigation of native defects in BaSi 2 epitaxial films by electron paramagnetic resonance. Applied Physics Express, 2019, 12 (6), pp.061005. ⟨10.7567/1882-0786/ab2062⟩. ⟨hal-04797437⟩
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