Correlation of native defects between epitaxial films and polycrystalline BaSi 2 bulks based on photoluminescence spectra - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Applied Physics Express Année : 2019

Correlation of native defects between epitaxial films and polycrystalline BaSi 2 bulks based on photoluminescence spectra

Domaines

Physique [physics]

Serge Gambarelli  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04797417

Soumis le : vendredi 22 novembre 2024-10:12:05

Dernière modification le : lundi 9 décembre 2024-03:20:45

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Dates et versions

hal-04797417 , version 1 (22-11-2024)

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Citer

Takuma Sato, Yudai Yamashita, Zhihao Xu, Kaoru Toko, Serge Gambarelli, et al.. Correlation of native defects between epitaxial films and polycrystalline BaSi 2 bulks based on photoluminescence spectra. Applied Physics Express, 2019, 12 (11), pp.111001. ⟨10.7567/1882-0786/ab476f⟩. ⟨hal-04797417⟩

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